1. Electronics reliability and measurement technology :
پدیدآورنده : edited by Joseph S. Heyman
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Reliability-- Congresses,Integrated circuits-- Testing-- Congresses,Nondestructive testing-- Congresses
رده :
TK7874
.
E486
1988